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          X熒光光譜儀定量分析的應用

          返回列表查看手機網址來源:東方分析儀器 發布日期:2021-08-20 瀏覽:

          在對試品檢驗化學構成元素中,運用X熒光光譜儀設備,而有關X熒光光譜儀定性分析的操作方法,下面有有關介紹。

          X射線熒光光譜法進行定性分析的依據是元素的熒光X射線強度Ii與試件中該元素的含量Ci正相關:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時,該元素的熒光X射線的強度。

          熒光光譜儀

          依據上式,可以選用標準曲線法、增量法、內標法等進行定性分析??墒沁@種方式都需要使標準試品的構成與試件的構成盡量相同或類似,要不然試件的基體效應就是指試品的基本化學構成和物理化學狀態的變化對X射線熒光強度所造成的影響。

          化學構成的變化,會影響試品對一次X射線和X射線熒光的吸收,也會轉變熒光增強效應。比如,在測量不銹鋼中Fe和Ni等元素時,由于一次X射線的激發會形成Nika熒光X射線,Nika在試品中可能被Fe吸收,使Fe激發形成Feka。測量Ni時,由于Fe的吸收效應使結果稍低,測量Fe時,由于熒光增強效應使結果較高。

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