采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產成本及減小儀器體積，實現全譜分析，可以很方便地增加檢測元素的種類。

    此外，CCD具有良好穩定性和較長的使用壽命。CCD型光電直讀光譜儀可以實現激發樣品時自動完成波長校準，不再需要定期進行校準。采用CCD可實現模塊化、易于校準、抗振動。

     傳統的光電倍增管(PMT)技術相比，對CCD的研究起步較晚，作為新型檢測器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個通道都做優化。其次，CCD在應用中為了降低暗電流需要降溫，低溫控制的實現相對比較困難；CCD目前還無法應用一些高速采樣技術，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT； CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理

    多塊CCD之間的接收空白區，也是一個問題。此外，當前CCD技術已經可以滿足中端分析應用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。

    雖然目前CCD還有一些不足之處，但是CCD在光電直讀光譜儀中的應用是值得期待的。近些年CCD器件發展已經相當成熟，能夠滿足一般的分析要求，針對細分市場，各種特殊用途的CCD不斷產生?？梢灶A期CMOS(互補金屬氧化物半導體)技術很快會應用于CCD當中，這些技術的不斷發展會促使CCD發展到更高的水平。

CCD與PMT結合是目前解決全譜檢測并滿足微量和痕量分析的優先選擇，但同時滿足兩種類型檢測器的采樣控制和系統的完美結合目前仍然是該類儀器的制造難點。